新浦京集团350vip常郝、周万怀、赵涛、殷仕淑四位老师在《中国科学》2017年第2期上发表了题为《基于时间数字转换的硅通孔绑定前测试方法》的学术论文。
《中国科学》创刊于1950年，半个世纪以来，立足中科院，面向全国，已发展成为在学术水平、编辑质量、出版质量上国内一流的学术刊物，《中国科学》杂志发表领域最高学术水平的中文文章，包括计算机科学与技术、控制科学与控制工程、通信与信息系统、电子科学与技术领域的理论、工程技术和应用研究方法的原创性成果。
该篇论文基于时数转换原理研究信号经过硅通孔后跳变延迟(transition delay)波动，以脉宽缩减量表征硅通孔中制造缺陷的类型和严重程度，提出一种基于时数转换的内建自测试方案。与现有方案相比存在具有皮秒级精度、更大的故障检测范围以及更高的测试灵活性；能够有效测试多种不同制造工艺、尺寸的硅通孔，减轻ATE或测试控制器的负担；能够支持更细粒度的故障分级，该特征对于后期故障诊断、内建自修复和硅通孔质量分级极其宝贵；不需要探针，是一种非侵入式测试方法，可测试性设计面积开销可以忽略不计等先进优势。
这是我校教师在《中国科学》发表的又一篇高水平研究成果。
（撰稿人：新浦京集团350vip 杨黎黎 审核人：新浦京集团350vip 戴道明 ）
